XXRD是（X-ray Diffraction）射线衍射仪的简称。其基本原理是当X射线照耀所测物质（晶体），相应晶面会发生衍射强度。随着发射X射线的转轴移动，不同视点的不同晶面会被彻底扫描出来。然后依据布拉格方程2d sinθ=nλ，呈现出图谱。
一、小角X射线衍射SAXD和广角X射线衍射WAXD简介：
广角X射线衍射：X射线衍射需求在广角范围内测定，因而又被称为广角X射线衍射(Wide-Angle X-raydiffraction英文简称WAXD) 。
小角X射线衍射：X射线衍射需求在小角范围内测定，因而又被称为小角X射线衍射(Small Angle X-ray Diffraction英文简称SAXD) 。
以上总称X射线衍射（X-ray Diffraction，简称XRD）
二、小角X射线散射SAXS和广角 X 射线散射WAXS简介
假如被照耀试样具有不同电子密度的非周期性结构，则次生X射线不会发生干涉现象，该现象被称为漫射X射线衍射（简称散射）。
（1）SAXS（小角 X 射线散射）
小角X射线散射：X射线散射需求测定，因而又被称为小角X射线散射(Small-Angle X-ray Scattering, 英文简称SAXS) 。
SAXS 是剖析各种样品类型（液体、粉末、固体、凝胶...）的纳米级结构和尺度的最通用东西之一。 样品能够是无定形、结晶或半结晶。 经过 SAXS 研讨的典型样品包含胶体分散体、表面活性剂、聚合物、生物大分子、膜、纳米复合资料、纳米粉末和多孔资料。 经过丈量二维 SAXS 谱图能够研讨各向异性纳米级结构的取向。
（2）WAXS（广角 X 射线散射）
基于在更高视点处丈量的散射谱图，能够识别和量化给定样品中存在的晶相和预算纳米微晶的尺度。各向异性结构中晶格的取向，例如在聚合物中，能够经过2D WAXS 谱图来揣度。
三、小角x射线散射和广角衍射的差异：
广角XRD一般指3°~80°，乃至是更高的度数，一般用来判断某种资料的物相，便是什么物质。
SAXS扫描视点一般为0.2-2度。测结晶度用（广角WAXD）就行。测长周期或结晶厚度用小角x射线散射SAXS。
注意区分一个是衍射，一个是散射。
小分子晶体主要用WAXD研讨，高分子资料SAXS比较重要。
小角衍射：小角是指5度以内。小角衍射范围能够设置在1-90度。
广角衍射：5-90度。
小角衍射需求小角配件才干进行。
例如分子筛的特征是10度以内有特征峰，假如用小角衍射，能够设置扫描1-10度。
四、相关常见问题
①小角xrd表征什么，大角xrd又表征什么，各有什么特点？
发生的X射线中,包含与靶中各种元素对应的具有特定波长的X射线，称为特征（检测方法:用XRD检测仪检测表征差异：跟规范图谱比照，依据波峰的差异能够得到。
②小角X射线衍射和小角X射线散射有什么差异？
X射线与样品的效果发生散射，要看射线与格子 之间的相互效果是否相干，相干的就发生衍射，不相干就不能发生衍射、就只能是散射。小角X射线衍射和小角X射线散射不是一个概念！
小角X射线衍射缩写是SAXD，小角X射线散射的缩写是SAXS，二者的原理仍是有很大的差异。衍射对应的是周期性结构如晶格与X射线相互效果引起的相干衍射现象，而散射对应的是X射线电子在透射样品前后电子密度的变化。
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