专为材料分析产业设计
适用于不同类型的材料分析检测
采用自主研发的碳纳米管X光管
高光子效率碳纳米管
一体化X射线源
支持多角度2.5D检测 可升级为3D
可提供定制化软件功能
一键获取高分辨率的图像
最优分辨率可达到2.5μm
轻松胜任各种材料尺寸
和缺陷检测 广泛应用于
新产品研发及质量抽检、失效分析
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采用自主研发的碳纳米管X光管以及高分辨率平板探测器, 能够快速获取优质的二维检测图像。最优分辨率可达到2.5μm 轻松胜任各种物体材料的尺寸和缺陷分析检测需求。广泛应用于新产品 研发及质量抽检、失效分析。了解更多
适用于不同类型的材料分析检测
高光子效率碳纳米管
一体化X射线源
支持多角度2.5D检测 可升级为3D
可提供定制化软件功能
最优分辨率可达到2.5μm
轻松胜任各种材料尺寸
和缺陷检测 广泛应用于
新产品研发及质量抽检、失效分析
系统参数 | 灰度等级 | 14/16bits |
|
系统分辨率 | 5μm |
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|
标准外形尺寸 | 1454x1360x1785mm |
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整体重量 | 1000kg |
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载物台尺寸 | 510x440mm |
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最大倾斜角度 | 60° |
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X射线源 | 工作电压 | 90~150KV |
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工作电流 | 10~150μA |
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焦点尺寸 | 3~15μm |
可选 |
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光管类型 | 闭管 |
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探测器 | 探测器类型 | 数字平板探测器 |
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像素尺寸 | 49.5μm | 可选配更高级别 | |
像素数量 | 1300x1152 | 可选配更高级别 | |
成像面积 | 64x57mm | 可选配更高级别 |
下载产品手册了解更多
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