新一代X射线成像系统
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X射线无损检测技术体系

作者:X射线无损检测厂家 发表时间:12/2/2021 4:17:34 PM

按照对工件进行X光无损检测的方法,X光检测可以分为X光无损检测技术和数字射线检测技术。X射线成像技术发展历史悠久,技术成熟,应用广泛,为其它射线成像技术的发展奠定了坚实的基础。该技术主要包括X射线实时成像技术、X射线断层扫描CT成像检测技术、X射线微CT成像检测技术、X射线锥束CT三维成像检测技术、康普顿后散射技术等。
文本标签:X射线无损检测

经过100多年的发展,X射线成像技术已经形成了一个相对完整的X射线无损检测技术体系。为了满足这些需求,新的检测技术也在不断创新,采用Xray在线检测技术。它不仅可以检测BGA等不可见焊点,还可以定性定量分析检测结果,从而早期发现故障。


按照对工件进行X光无损检测的方法,X光检测可以分为X光无损检测技术和数字射线检测技术。X射线成像技术发展历史悠久,技术成熟,应用广泛,为其它射线成像技术的发展奠定了坚实的基础。该技术主要包括X射线实时成像技术、X射线断层扫描CT成像检测技术、X射线微CT成像检测技术、X射线锥束CT三维成像检测技术、康普顿后散射技术等。

x光无损探伤仪用于锂电池行业。

从电池的内部结构可以看出,阴极封装在阳极中,中间隔离带主要用于防止阳极和阴极短路。如果使用的成品电池无法检测到内部结构,适用于无损检测设备。检测阴极和阳极是否对齐,确保隔离状态是后续监测数据安全的关键。


x光无损检测在半导体工业中的应用。

现有的检测方法是剥离薄片层层,然后用电子显微镜拍摄各层表面。此方法将给芯片带来极大的破坏。此时,X射线无损检测技术可能有所帮助。电子设备X射线检测器主要使用X射线照射晶片内部。由于X射线穿透力强,可以穿透晶片成像,内部结构的断裂可以清晰显示。使用X射线检测芯片的最大特点是不会损坏芯片本身,因此该检测方法也称为无损检测。

x光无损检测技术是利用物体对X-RAY材料的吸收差异,对物体内部结构进行成像,然后进行内部缺陷检测。广泛应用于工业检测、检测、医学检测、安全检测等领域。

1.可用于检测某些金属材料及其部件、电子部件或发光二极管部件是否有裂纹和异物。

2.可对BGA、线路板等进行内部检测与分析。

3.检查和判断BGA焊接中的断丝、虚焊等缺陷。

4.能够检测和分析电缆、塑料部件、微电子系统、粘合剂和密封部件的内部状况。

5.用于检测陶瓷铸件的气泡和裂纹。

6.检查集成电路包装是否有缺陷,如脱皮、损坏、间隙等。

7.印刷行业的应用主要表现在纸板生产中的缺陷、桥梁和断路。

8.SMT主要用于检测焊点间隙。

9.在集成电路中,主要检测各种连接线的断开、短路或异常连接。


x射线无损检测仪是一种利用低能量x射线,在不损坏被检物品的情况下,对被检物品进行快速检测。因此,在某些行业,x射线无损检测也被称为无损检测。电子元件、半导体封装产品的内部结构质量、SMT焊接质量等。随处可见的X-ray应用。有了x光无损检测器,我们的生活工作会变得更加顺畅方便。

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