新一代X射线成像系统
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Dolphin1412FDI

X射线平板探测器,采用CMOS传感器,动态,具备超高解析度、高帧率29fps,无残影,适用于电子线路SMT与IC封装检测等微焦点场景
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Dolphin1412FDI

X射线平板探测器
动态,越高解析度
高帧率29fps,无残影
有效区域 120 x 140mm

Dolphin1412FDI X射线平板探测器

CMOS平板探测器

电荷迁移率更高
图像读取速度更快
电子噪声明显理低
集成行扫描和列读出电路

Dolphin1412FDI X射线平板探测器

Dolphin0606FDI 应用

电子线路SMT检测
IC 封装检测

Dolphin1412FDI X射线平板探测器
应用案例&解决方案
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规格参数
  • Dolphin1412FDI X射线平板探测器
主要特征 尺寸规格(长x宽x高) 171 x 171 x 37 mm
像素尺寸 50 μm
像素矩阵 2400 x 2802
量化深度 16-bits
重量 3.2 Kg
闪烁体 碘化铯
防尘防水 IPX0
电源 100 ~ 240 VAC
频率 50/60 Hz
功耗 8 W
服务支持
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